Rentgenowska tomografia komputerowa (CT) do zadań przemysłowych

pol Artykuł w języku polskim DOI:

wyślij Eugeniusz Ratajczyk Wyższa Szkoła Ekologii i Zarządzania w Warszawie

Pobierz Artykuł

Streszczenie

W artykule przedstawiono najnowszą generację urządzeń pomiarowych wchodzących do przemysłu i jednostek badawczych, a mianowicie tomografię komputerową CT. Opisano istotę pomiarów tomograficznych, zasadę działania i budowę tomografów, ich funkcje i oprogramowanie. Następnie przedstawiono liczne przykłady zastosowań w wyznaczaniu wymiarów geometrycznych, zarówno w odniesieniu do modelu CAD, jak i tworzeniu modelu w zakresie inżynierii odwrotnej. Przedstawiono również przykłady wykrywania wad materiału w defektoskopii.

Słowa kluczowe

defektoskopia, detektor, inżynieria odwrotna, lampa rtg, model CAD, tomograf komputerowy CT

X-ray computed tomography for industrial tasks

Abstract

This paper presents the latest generation of measuring devices being introduced into the industry and research units, namely, computed tomography CT. The essence of tomography measurements, principles of operation and construction of scanners, their functions and software are described. Then presents several examples of applications in determining the geometrical dimensions of both the CAD model and creating a model for reverse engineering are presented. It also presents examples of flaw detection in revealing of defects in the material.

Keywords

computed tomography CT, detector, flaw detection, model CAD, reverse engineering, x-ray tube, X-rays radiations

Bibliografia

  1. Jezierski G.: Radiografia przemysłowa, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 1993.
  2. Cierniak R.: Tomografia komputerowa. Budowa urządzeń CT. Algorytmy rekonstrukcyjne, Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa 2005.
  3. Kielczyk J. : Radiografia przemysłowa, Wydawnictwo Gamma, Warszawa 2006.
  4. Ratajczyk E.: Współrzędnościowa technika pomiarowa, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2005.
  5. Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych, WNT, Warszawa 2004.
  6. Bartscher M., Hilpert U., Goebbels J., Weidemann G.: Enhancement and Proof of Accuracy of Industrial Computed Tomography (CT) Measurements, Annalsof the CIRP, Elsevier, vol. 56, (1) 2007, 495-498.
  7. Hiller J., Kasperl S., Hilpert U., Bartscher M.: Coordinate Measuring with Industrial X-Ray Computed Tomography, Technisches Messen, vol. 74, no. 11, 2007, 553-564.
  8. Ryniewicz A.: Accuracy assessment of shape mapping using Computer Tomography. Metrology and Measuring Systems, Quarterly of Polish Academy of Sciences, vol. 17, no. 3, 2010, 482-491.
  9. VDI/VDE 2630. Blatt 1.3: Computertomografie in der dimensionalen Messtechnik, Düsseldorf 2009.
  10. Adresy internetowe:
  • Carl Zeiss Sp.z o.o. Segment IMT (Warszawa) [www.zeiss.pl].
  • GE Sensing & Inspection Technologies (Niemcy) [www.phoenix-xray.com].
  • Nikon Metrology Europe NV Leuven (Belgia) [www.nikonmetrology.com].